부모 평정형 초등 저학년 다중지능 검사 개발 및 타당화

Abstract

본 연구는 초등 저학년 학생의 다중지능을 평가하기 위해 부모 평정형 검사를 개발하고 검사의 신뢰성과 타당성을 확인하는 데 목적이 있다. 먼저 연구 주제와 관련 있는 국내외 선행연구물을 분석하였으며 초등 저학년용 다중지능 검사개발을 위해 13명의 전문가들에게 2차에 걸쳐 델파이 조사를 실시하였다. 이후 예비검사를 시행한 후 양호도가 확인된 143개의 문항을 선정하여 본검사를 실시하였고, 본검사 문항의 양호도 검증과 연구진 회의를 통한 검사 활용성 점검 과정을 거쳐 97문항을 최종 선정하였다. 8개 지능 영역의 신뢰도는 .750에서 .858로 양호하였으며, 확인적 요인분석을 통해 구인타당도를 확보하였다. 본검사에 참여했던 초등 저학년 학생(n=625) 중 111명의 다중지능 특성에 대해 담임교사의 관찰 평정치를 산출해 비교해 본 결과 유의한 상관이 있음을 확인함으로써 준거타당도를 확보하였다.